随机噪声激励下轻敲式原子力显微镜动力学特性研究
Dynamic analysis of tapping mode atomic force microscopy under random noise excitation
微/纳机电系统 / 原子力显微镜 / Lennard-Jones力 / 有界噪声 / 弯月面 {{custom_keyword}} /
MEMS/NEMS / atomic force microscope (afm) / lennard-jones potential / bounded noise / meniscus force. {{custom_keyword}} /
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